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  • LJ-96C超声波探伤仪

    超声波探伤仪是一种便携式工业无损探伤仪器,它能够快速、便捷、无损伤精确地进行工件内部多种缺陷(裂纹、疏松、气孔、夹杂等)的检测、定位、评估和诊断。

    更新时间:2026-04-02
    产品型号:LJ-96C
    浏览量:218
  • LJ-FT50UV反射式光学膜厚仪

    反射式光学膜厚仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜,测量误差小于1纳米,最快每秒可测100次,重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合,覆盖紫外到红外全光谱,抗干扰能力强,在振动或复杂环境下也能稳定工作。

    更新时间:2026-07-07
    产品型号:LJ-FT50UV
    浏览量:462
  • LJ-FT50UV非接触式膜厚测量仪

    非接触式膜厚测量仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜,测量误差小于1纳米,最快每秒可测100次,重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合,覆盖紫外到红外全光谱,抗干扰能力强,在振动或复杂环境下也能稳定工作。

    更新时间:2026-07-07
    产品型号:LJ-FT50UV
    浏览量:334
  • LJ-FT50UV反射式膜厚测量仪

    反射式膜厚测量仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜,测量误差小于1纳米,最快每秒可测100次,重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合,覆盖紫外到红外全光谱,抗干扰能力强,在振动或复杂环境下也能稳定工作。

    更新时间:2026-07-07
    产品型号:LJ-FT50UV
    浏览量:378
  • LJ-FT50UV光学膜厚仪

    光学膜厚仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜,测量误差小于1纳米,最快每秒可测100次,重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合,覆盖紫外到红外全光谱,抗干扰能力强,在振动或复杂环境下也能稳定工作。

    更新时间:2026-07-07
    产品型号:LJ-FT50UV
    浏览量:395
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